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XWK-IIIC现场勘查物证提取仪

XWK-IIIC现场勘查物证提取仪  价格：38000.00
 
 

 
 
一、产品特点
1、仪器采用手持式和支架式两种操作方式，广泛应用于现场痕迹的观察和显微照相提取及痕迹物证的比对鉴定、图章真伪等鉴定。
2、可对案发现场进行显微放大调节下的物证进行查找、采集、存储。
3、携带方便，使用灵活。配有便携式光源。
4、采用彩色数码CCD，数字信号，图像清晰。
5、功能全面，可用于现场勘查同时可进行痕迹物证比对鉴定。
二、主要参数
1、物镜：0.7～4.5X;连续变倍
2、变倍比：1：6.3
3、摄影物镜：0.35X;
4、图像采集：1/2英寸，300万像素彩色数码CCD
5、升降体升降范围：0～60mm
6、碟型立柱式底座：立柱升降范围0～300mm
7、X/Y/Z移动平台：X轴移动0～60mm，Y轴移动0～60毫米，Z轴可旋转角度0～360°
8、LED同轴光光源：4.2V/5W
9、可充电电源：2000毫安可充电锂电池
10、12V/100W双臂光纤冷光源
11、红外光源
12、便携式仪器背包
13、软件系统：TeKin视频观察照相/比对系统软件
14、笔记本电脑：内存2GB，硬盘250GB，屏幕尺寸14英寸，双核处理器
选购件：◆摄影物镜
　　　　◆痕迹自动识别软件
　　　　◆超景深大拼接图像处理软件